Number of the records: 1
Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis
Title statement Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy Personal name Goldstein, Joseph, 1939- (author) Edition statement Fourth edition Publication New York : Springer, [2018] Copyright notice date ©2018 Phys.des. xxiii, 550 stran : ilustrace (převážně barevné) ISBN 978-1-4939-6674-5 (vázáno) Note Na obálce: extras online Internal Bibliographies/Indexes Note Obsahuje bibliografie, bibliografické odkazy a rejstřík Another responsib. Newbury, Dale E. (author)
Michael, Joseph R. (author)
Ritchie, Nicholas W. M. (author)
Scott, John Henry J. (author)
Joy, David C., 1943- (author)Subj. Headings skenovací elektronová mikroskopie * elektronová mikroskopie * elektronová mikroanalýza Form, Genre příručky Conspect 681 - Přesná mechanika a přístroje 621.38 - Elektronika UDC 57.086.3 * 543.427.34 * (035) * 681.723 * 537.533.35 * 543.063 * 539.124 * (048.8) Country Spojené státy americké Language angličtina Document kind Books Call number Barcode Sublocation Volný výběr Info KB 39197 3300063328 volný výběr D840 2018 Date due 31 days
Number of the records: 1