Výsledky vyhledávání
- Rentgenová spektrometrie : sborník přednášek z kurzu / [uspořádal Václav Helán] . Český Těšín : 2 Theta, 2005 . 285 s.
Umístění Volné Nedostupné/Prezenčně Vypůjčené Rezervace volný výběr 1 0/0 0 0 - Thin film analysis by X-ray scattering / Mario Birkholz ; with contributions by Paul F. Fewster, Christoph Genzel . Weinheim : Wiley-VCH, c2006 . xxii, 356 s.
Umístění Volné Nedostupné/Prezenčně Vypůjčené Rezervace UMC - Ryšánek Mgr. 0 0/1 0 0
