Výsledky vyhledávání

Nalezeno záznamů: 1  
Váš dotaz: Autor-kód záznamu + druh.dok = "^ujep_us_auth a0016285 xkni^"
  1. Reliability and failure of electronic materials and devices / Milton Ohring with Lucian Kasprzak   .  Amsterdam : Academic Press, [2015]  ©2015 . xxiv, 734 stran
    Umístění Volné Nedostupné/Prezenčně Vypůjčené Rezervace
    volný výběr10/000


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.