Výsledky vyhledávání

Nalezeno záznamů: 10  
Váš dotaz: Autor-kód záznamu + druh.dok = "^ujep_us_auth a0005071 xkni^"
  1. Computer simulation of electron microscope diffraction and images : proceedings of a topical symposium [...] Las Vegas, Nevada, February 28 - March 3, 1989 / Ed. by William Krakow, Michael O'Keefe   .  Warrendale :  The Minerals, Metals and Materials Society,  1989 . viii, 275 s.
    Umístění Volné Nedostupné/Prezenčně Vypůjčené Rezervace
    sklad D20/000
  2. Elektrónmikroskopické štúdie vplyvu mikroelementov na bunkové organely rastlín / Rudolf Herich, Milan Bobák, Ján Hudák   .  Bratislava : Univerzita Komenského, 1980 . 150 stran
    Umístění Volné Nedostupné/Prezenčně Vypůjčené Rezervace
    sklad E10/000
  3. Elektronový mikroskop : Určeno techn. pracovníkům v elektronové mikroskopii ... i ve věd. výzkum. ústavech a prům. laboratořích / N.G. Suškin ; [Z ruš.] Elektronnyj mikroskop přel. [a] předml. k č. vyd. [naps.] Miroslav Rozsíval   .  Praha :  SNTL,  1954 . 257, [1] s.
    Umístění Volné Nedostupné/Prezenčně Vypůjčené Rezervace
    sklad E00/010
  4. Metody analýzy povrchů : elektronová mikroskopie a difrakce / editoři Ludmila Eckertová, Luděk Frank ; autoři Armin Delong ... [et al.]   .  Praha :  Academia,  1996 . 379 s.
    Umístění Volné Nedostupné/Prezenčně Vypůjčené Rezervace
    sklad D00/010
  5. Metody analýzy povrchů. Iontové, sondové a speciální metody / editoři Luděk Frank, Jaroslav Král ; [autoři Jaroslav Král ... et al.]   .  Praha :  Academia,  2002 . 489 s.
    Umístění Volné Nedostupné/Prezenčně Vypůjčené Rezervace
    sklad D00/010
  6. Nanoskopie / Milan Vůjtek, Roman Kubínek, Miroslav Mašláň   .  V Olomouci :  Univerzita Palackého,  2012 . 122 s.
    Nanoskopie
  7. Praktická elektronová mikroskopie / Autoři: Armin Delong a Vladimír Drahoš   .  Praha :  ČSAV,  1958 . 370, [1] s.
    Umístění Volné Nedostupné/Prezenčně Vypůjčené Rezervace
    sklad E00/010
  8. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy   .  New York : Springer, [2018]  ©2018 . xxiii, 550 stran
    Umístění Volné Nedostupné/Prezenčně Vypůjčené Rezervace
    volný výběr00/010
  9. Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein ... [et al.]   .  New York :  Springer :  2007 . xix, 690 s.
    Umístění Volné Nedostupné/Prezenčně Vypůjčené Rezervace
    FY - Kormunda Ing.00/100
  10. Theory and practice of histological techniques / edited by John D. Bancroft, Marilyn Gamble   .  Edinburgh :  Churchill Livingstone,  2002 . xiii, 796 s.
    Umístění Volné Nedostupné/Prezenčně Vypůjčené Rezervace
    sklad E10/000


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.