Výsledky vyhledávání
- Thin film analysis by X-ray scattering / Mario Birkholz ; with contributions by Paul F. Fewster, Christoph Genzel . Weinheim : Wiley-VCH, c2006 . xxii, 356 s.
Umístění Volné Nedostupné/Prezenčně Vypůjčené Rezervace UMC - Ryšánek Mgr. 0 0/1 0 0