Výsledky vyhledávání
- Depozice ultratenkých vrstev oxidů cínu dopovaných železem a podobných systémů / Matěj Šebík . 2016 . 40 listů
Umístění Volné Nedostupné/Prezenčně Vypůjčené Rezervace sklad C 0 0/1 0 0 - Ellipsometry at the nanoscale / Maria Losurdo, Kurt Hingerl (editors) . New York : Springer, 2013 . xxiv, 730 s.
Umístění Volné Nedostupné/Prezenčně Vypůjčené Rezervace FY - Kormunda Ing. 0 0/1 0 0 - Spectroscopic ellipsometry : principles and applications / Hiroyuki Fujiwara . Chichester : John Wiley & Sons, c2007 . xviii, 369 s.
Umístění Volné Nedostupné/Prezenčně Vypůjčené Rezervace FY - Kormunda Ing. 0 0/1 0 0
