Search results
- Spolehlivost v mikroelektronice / [Autor:] N. I. Četverikov ; Předml.: V. K. Levin ; Z rus. orig. Nadežnosť v mikroelektronike přel. Jaroslav Jerhot . Praha : SNTL, 1980 . 53, [2] s.
Dislocation Available Unavail./Only at library Issued Reservations sklad E 1 0/0 0 0
