Search results

  1. Spectroscopic ellipsometry : principles and applications / Hiroyuki Fujiwara   .  Chichester :  John Wiley & Sons,  c2007 . xviii, 369 s.
    Dislocation Available Unavail./Only at library Issued Reservations
    FY - Kormunda Ing.00/100
  2. Využití optických metod pro měření vlastností tekutin = Application of optical methods for properties measurement of liquids / Jan Hošek   .  V Praze :  České vysoké učení technické,  c2010 . 20 s.
    Využití optických metod pro měření vlastností tekutin
  3. Využití počítačových modelů pro studium optických vlastností kompozitních vrstev [rukopis] / Petr Šnobl   .  2009 . 63 l. [5] l. příl.
    Dislocation Available Unavail./Only at library Issued Reservations
    sklad C00/100


  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.