Number of the records: 1  

Birkholz, Mario, 1958-

  1. Personal nameBirkholz, Mario, 1958-
    BiographyNěmecký fyzik, odborník v oblasti materiálového inženýrství a bioelektroniky, zaměřuje se na strukturu a morfologii tenkých vrstev, jejich zkoumání technikami rentgenového rozptylu a vztah mezi strukturou a funkcí.
    Source data foundBirkholz, Mario: Thin film analysis by X-ray scattering, c2006 (biografické údaje) ; DNB, cit. 23. 2. 2018 (autoritní forma) ; www(osobní stránka), cit. 23. 2. 2018 (biografické údaje) ; www(Amazon.sg), cit. 15. 9. 2020 (biografické údaje, datum narození)
    DatabaseFile of personal names and family names
    References (1) - Books
Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.

Accept allSettingsReject all