Number of the records: 1
A practical guide to optical metrology for thin films
Title statement A practical guide to optical metrology for thin films / Michael Quinten Personal name Quinten, Michael (author) Issue data Weinheim : Wiley-VCH, c2013 Phys.des. xii, 211 s. : il. (některé barev.) ISBN 978-3-527-41167-2 (brož.) Internal Bibliographies/Indexes Note Obsahuje rejstřík a bibliografii Subj. Headings metrologie * elektromagnetické záření * šíření světla * optická měření Conspect 006 - Metrologie. Standardizace UDC 006.91 * 53.082.5 * 535.3 * 537.531 Country Německo Language angličtina URL Anotace Document kind Books 
Call number Barcode Sublocation Volný výběr Info P-Fy 2940 3149304732 FY - Kormunda Ing. In-Library Use Only
Number of the records: 1