Number of the records: 1
Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis
Title statement Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy Personal name Goldstein, Joseph, 1939- (author) Edition statement Fourth edition Publication New York : Springer, [2018] Copyright notice date ©2018 Phys.des. xxiii, 550 stran : ilustrace (převážně barevné) ISBN 978-1-4939-6674-5 (vázáno) Note Na obálce: extras online Internal Bibliographies/Indexes Note Obsahuje bibliografie, bibliografické odkazy a rejstřík Another responsib. Newbury, Dale E. (author)
Michael, Joseph R. (author)
Ritchie, Nicholas W. M. (author)
Scott, John Henry J. (author)
Joy, David C., 1943- (author)Subj. Headings skenovací elektronová mikroskopie * elektronová mikroskopie * elektronová mikroanalýza Form, Genre příručky Conspect 681 - Přesná mechanika a přístroje 621.38 - Elektronika UDC 57.086.3 * 543.427.34 * (035) * 681.723 * 537.533.35 * 543.063 * 539.124 * (048.8) Country Spojené státy americké Language angličtina Document kind Books 
Call number Barcode Sublocation Volný výběr Info KB 39197 3300063328 volný výběr D840 2018 vypůjčený (Date due 31 days; until *29.04.2024)
Number of the records: 1