Number of the records: 1
Thin film analysis by X-ray scattering
Title statement Thin film analysis by X-ray scattering / Mario Birkholz ; with contributions by Paul F. Fewster, Christoph Genzel Personal name Birkholz, Mario, 1958- (author) Issue data Weinheim : Wiley-VCH, c2006 Phys.des. xxii, 356 s. : il. ; 25 cm ISBN 3-527-31052-5 (vázáno) Note Seznam symbolů Internal Bibliographies/Indexes Note Obsahuje bibliografie, bibliografické odkazy a rejstřík Another responsib. Fewster, Paul F. (contributor)
Genzel, Christoph (contributor)Subj. Headings spektroskopie * tenké vrstvy * rozptyl rentgenového záření * elektronová difrakce * rentgenová spektroskopie Subj. Headings rentgenová spektroskopie Form, Genre monografie Conspect 543 - Analytická chemie UDC 539.216 * 543.42 * 535.651:535-34 * 543.427 Country Německo Language angličtina Document kind Books 
Call number Barcode Sublocation Volný výběr Info KB 32953 3300053883 UMC - Ryšánek Mgr. In-Library Use Only
Number of the records: 1