Number of the records: 1  

Rtg. spektrální stanovení vybraných prvků ve fritách: Zavedení a validace metody

  1. Title statementRtg. spektrální stanovení vybraných prvků ve fritách: Zavedení a validace metody [rukopis] / David Hájek
    Personal name Hájek, David, bakal. FŽP 2008 (dissertant)
    Issue data2013
    Phys.des.198 l., [45] l. příl. : barev. il., grafy, schémata, tabulky
    NoteVed. práce Pavel Janoš
    Thesis noteDiplomová práce -- Univerzita J.E. Purkyně v Ústí nad Labem, Katedra průmyslových technologií a techniky, 2013
    Another responsib. Janoš, Pavel, 1957- (thesis advisor)
    Another responsib. Univerzita J.E. Purkyně v Ústí nad Labem. Katedra technických věd (degree grantor)
    Subj. HeadingsRentgenová analýza XRF WD-XRF spektrometr Philips PW2400 Thermo Fisher Scientific ARL Advant´X Intellipower ITZ-1 UniQuant IQ+ SuperQ Oxsas Kappa list frita Glazura X-Ray analysis XRF WD-XRF spectrometer Philips PW2400 Thermo Fisher Scientific ARL Advant´X Intellipower ITZ-1 UniQuant IQ+ SuperQ Oxsas Kappa list frit Glazura
    Form, Genre diplomové práce
    UDC(043)378.2
    CountryČesko
    Languagečeština
    URLhttps://portal.ujep.cz/StagPortletsJSR168/CleanUrl?urlid=prohlizeni-prace-detail&praceIdno=00131713
    Document kindDiploma theses
    Call numberBarcodeSublocationVolný výběrInfo
    DA 15463300701546sklad CIn-Library Use Only

Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.