Number of the records: 1
Ellipsometry at the nanoscale
Title statement Ellipsometry at the nanoscale / Maria Losurdo, Kurt Hingerl (editors) Issue data New York : Springer, 2013 Phys.des. xxiv, 730 s. : grafy ISBN 978-3-642-33955-4 (váz.) Another responsib. Losurdo, Maria (editor)
Hingerl, Kurt (editor)Subj. Headings nanotechnologie * elipsometrie * strojírenství * povrchy Form, Genre sborníky Conspect 62 - Technika všeobecně UDC 62-022.532 * 531.715 * 621 * 538.971 * (082) Country Spojené státy americké Language angličtina Document kind Books 
Call number Barcode Sublocation Volný výběr Info KB 770 3300001285 FY - Kormunda Ing. In-Library Use Only
Number of the records: 1