Number of the records: 1
Scanning microscopy for nanotechnology
Title statement Scanning microscopy for nanotechnology : techniques and applications / edited by Weilie Zhou and Zhong Lin Wang Issue data New York : Springer, c2007 Phys.des. xiv, 522 s., 11 s. barev. obr. příl. : il. ISBN 0-387-33325-8 (Gb.) 978-0-387-33325-0 Internal Bibliographies/Indexes Note Obsahuje bibliografie a rejstříky Another responsib. Zhou, Weilie (editor)
Wang, Zhong Lin (editor)Subj. Headings skenovací mikroskopie * rentgenové záření * nanotechnologie * nanomateriály Form, Genre monografie Conspect 53 - Fyzika UDC 54-77 * 53.086:004.352 * 620.2-022.532 * 621.3.049.76 * 62-022.532 * (048.8) DOI CIP06N140584 Country Spojené státy americké Language angličtina URL http://www.gbv.de/dms/weimar/toc/509408273_toc.pdf
http://deposit.ddb.de/cgi-bin/dokserv?id=2784081&prov=M&dok_var=1&dok_ext=htm
http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0823/2006925865-d.htmlDocument kind Books 
Call number Barcode Sublocation Volný výběr Info P-Fy 2702 3149289088 FY - Kormunda Ing. In-Library Use Only
Number of the records: 1