Fyzik, odborník v oboru elektronové mikroskopie a mikroanalýzy, působil v Aspex Corporation, od roku 2004 v National Institute of Standards and Technology; věnuje se vysokorychlostní automatizované analýze částic.
Source data found
Goldstein, Joseph I. - Ritchie, Nicholas W. M. et al.: Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis, c2018 (afiliace) ; BLPC, cit. 2í. 5. 2020 (autoritní forma) ; www(Nicholas Ritchie - NIST), cit. 29. 5. 2020 (odkaz viz, profesní údaje)
Source data not found
LC (Names), cit. 29. 5. 2020
Database
File of personal names and family names
References
(1) - Books
openseadragon
Number of the records: 1
This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about
how we use cookies.
