Výsledky vyhledávání
- Reliability and failure of electronic materials and devices / Milton Ohring with Lucian Kasprzak . Amsterdam : Academic Press, [2015] ©2015 . xxiv, 734 stran
Umístění Volné Nedostupné/Prezenčně Vypůjčené Rezervace volný výběr 1 0/0 0 0