Košík

  Odznačit vybrané:   0
  1. Reliability and failure of electronic materials and devices / Milton Ohring with Lucian Kasprzak   .  Amsterdam : Academic Press, [2015]  ©2015 . xxiv, 734 stran
    Umístění Volné Nedostupné/Prezenčně Vypůjčené Rezervace
    volný výběr10/000

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.