QUINTEN, Michael. A practical guide to optical metrology for thin films. Weinheim : Wiley-VCH, c2013. xii, 211 s. Dostupné na internetu: <http://deposit.d-nb.de/cgi-bin/dokserv?id=4014765&prov=M&dok_var=1&dok_ext=htm> ISBN 978-3-527-41167-2.