Počet záznamů: 1
Scanning microscopy for nanotechnology
Údaje o názvu Scanning microscopy for nanotechnology : techniques and applications / edited by Weilie Zhou and Zhong Lin Wang Vyd.údaje New York : Springer, c2007 Fyz.popis xiv, 522 s., 11 s. barev. obr. příl. : il. ISBN 0-387-33325-8 (Gb.) 978-0-387-33325-0 Poznámky o skryté bibliografii a rejstřících Obsahuje bibliografie a rejstříky Dal.odpovědnost Zhou, Weilie (editor)
Wang, Zhong Lin (editor)Předmět.hesla skenovací mikroskopie * rentgenové záření * nanotechnologie * nanomateriály Forma, žánr monografie Konspekt 53 - Fyzika MDT 54-77 * 53.086:004.352 * 620.2-022.532 * 621.3.049.76 * 62-022.532 * (048.8) DOI CIP06N140584 Země vyd. Spojené státy americké Jazyk dok. angličtina URL http://www.gbv.de/dms/weimar/toc/509408273_toc.pdf
http://deposit.ddb.de/cgi-bin/dokserv?id=2784081&prov=M&dok_var=1&dok_ext=htm
http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0823/2006925865-d.htmlDruh dok. Knihy 
Signatura Čár.kód Dislokace Volný výběr Info P-Fy 2702 3149289088 FY - Kormunda Ing. pouze prezenčně
Počet záznamů: 1