Počet záznamů: 1
Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis
Údaje o názvu Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy Osobní jméno Goldstein, Joseph, 1939- (autor) Údaje o vydání Fourth edition Nakladatel New York : Springer, [2018] Copyright ©2018 Fyz.popis xxiii, 550 stran : ilustrace (převážně barevné) ISBN 978-1-4939-6674-5 (vázáno) Poznámky Na obálce: extras online Poznámky o skryté bibliografii a rejstřících Obsahuje bibliografie, bibliografické odkazy a rejstřík Dal.odpovědnost Newbury, Dale E. (autor)
Michael, Joseph R. (autor)
Ritchie, Nicholas W. M. (autor)
Scott, John Henry J. (autor)
Joy, David C., 1943- (autor)Předmět.hesla skenovací elektronová mikroskopie * elektronová mikroskopie * elektronová mikroanalýza Forma, žánr příručky Konspekt 681 - Přesná mechanika a přístroje 621.38 - Elektronika MDT 57.086.3 * 543.427.34 * (035) * 681.723 * 537.533.35 * 543.063 * 539.124 * (048.8) Země vyd. Spojené státy americké Jazyk dok. angličtina Druh dok. Knihy 
Signatura Čár.kód Dislokace Volný výběr Info KB 39197 3300063328 volný výběr D840 2018 vypůjčený (Doba výp. 31 dní; do *29.04.2024)
Počet záznamů: 1