Počet záznamů: 1
Thin film analysis by X-ray scattering
Údaje o názvu Thin film analysis by X-ray scattering / Mario Birkholz ; with contributions by Paul F. Fewster, Christoph Genzel Osobní jméno Birkholz, Mario, 1958- (autor) Vyd.údaje Weinheim : Wiley-VCH, c2006 Fyz.popis xxii, 356 s. : il. ; 25 cm ISBN 3-527-31052-5 (vázáno) Poznámky Seznam symbolů Poznámky o skryté bibliografii a rejstřících Obsahuje bibliografie, bibliografické odkazy a rejstřík Dal.odpovědnost Fewster, Paul F. (prispevatel)
Genzel, Christoph (prispevatel)Předmět.hesla spektroskopie * tenké vrstvy * rozptyl rentgenového záření * elektronová difrakce * rentgenová spektroskopie Předmět.hesla rentgenová spektroskopie Forma, žánr monografie Konspekt 543 - Analytická chemie MDT 539.216 * 543.42 * 535.651:535-34 * 543.427 Země vyd. Německo Jazyk dok. angličtina Druh dok. Knihy 
Signatura Čár.kód Dislokace Volný výběr Info KB 32953 3300053883 UMC - Ryšánek Mgr. pouze prezenčně
Počet záznamů: 1