Počet záznamů: 1
Ellipsometry at the nanoscale
Údaje o názvu Ellipsometry at the nanoscale / Maria Losurdo, Kurt Hingerl (editors) Vyd.údaje New York : Springer, 2013 Fyz.popis xxiv, 730 s. : grafy ISBN 978-3-642-33955-4 (váz.) Dal.odpovědnost Losurdo, Maria (editor)
Hingerl, Kurt (editor)Předmět.hesla nanotechnologie * elipsometrie * strojírenství * povrchy Forma, žánr sborníky Konspekt 62 - Technika všeobecně MDT 62-022.532 * 531.715 * 621 * 538.971 * (082) Země vyd. Spojené státy americké Jazyk dok. angličtina Druh dok. Knihy 
Signatura Čár.kód Dislokace Volný výběr Info KB 770 3300001285 FY - Kormunda Ing. pouze prezenčně
Počet záznamů: 1