Ionizing radiation effects in MOS devices and circuits
Ionizing radiation effects in MOS devices and circuits / edited by T. P. Ma and Paul V. Dressendorfer
.
New York :
John Wiley & Sons,
c1989
. xviii, 587 s.
Umístění
Volné
Nedostupné/Prezenčně
Vypůjčené
Rezervace
sklad D
1
0/0
0
0
Počet záznamů: 1
openseadragon
Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom
jak používáme cookies.